Difracción de rayos X y el método Rietveld
Teor?a y software de refinamiento
Sinopsis del libro
Estas notas tienen como objetivo presentar, en primer lugar,la parte te?rica relacionada con los aspectos principales de la difracci?n derayos-x. Con estos aspectos te?ricos el lector entender? como se calculan lasdiferentes caracter?sticas estructurales de una muestra a estudiar por medio deun programa basado en el…
Publicación2012
IdiomaEspañol
Extensión130 páginas
ISBN9789580000001
SKUIMP9789580000001
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