ImportadoPortada: Difracción de rayos X y el método Rietveld

Difracción de rayos X y el método Rietveld

Teor?a y software de refinamiento

ISBN9789580000001
AutorHernán Darío Colorado Restrepo Germán Antonio Pérez Alcázar
Marca / SelloU. del Valle
N.º páginas130
IdiomaEspañol
EncuadernaciónRústica
Fecha de edición2012

Sinopsis del libro

Estas notas tienen como objetivo presentar, en primer lugar,la parte te?rica relacionada con los aspectos principales de la difracci?n derayos-x. Con estos aspectos te?ricos el lector entender? como se calculan lasdiferentes caracter?sticas estructurales de una muestra a estudiar por medio deun programa basado en el…

Publicación2012
IdiomaEspañol
Extensión130 páginas
ISBN9789580000001
SKUIMP9789580000001

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